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英伟达CEO黄仁勋：BLACKWELL芯片存在设计瑕疵导致低良品率
英伟达CEO黄仁勋：BLACKWELL芯片存在设计瑕疵导致低良品率
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7个月前发布
人工智能
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10月23日，英伟达首席执行官黄仁勋称在BLACKWELL芯片有过一个设计瑕疵，BLACKWELL芯片在功能上是可行的，但由于设计缺陷，其良品率很低。
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