AI大模型
AI大模型(国内)
AI大模型(国际)
AI写作
AI教育
AI绘画
AI视频
AI音频
AI算力
AI芯片
AI数字人
AI机器人
智能制造
AI自动驾驶
AI量化交易
AI生物医药
AI开发与应用
AI资讯
AI融资
友情链接
友情链接
广告入驻
立即入驻
首页
•
AI资讯
•
英伟达CEO黄仁勋：BLACKWELL芯片存在设计瑕疵导致低良品率
英伟达CEO黄仁勋：BLACKWELL芯片存在设计瑕疵导致低良品率
AI资讯
7个月前发布
人工智能
1,313
0
0
10月23日，英伟达首席执行官黄仁勋称在BLACKWELL芯片有过一个设计瑕疵，BLACKWELL芯片在功能上是可行的，但由于设计缺陷，其良品率很低。
# AI资讯
©
版权声明
文章版权归作者所有，未经允许请勿转载。
上一篇
波形智能确认被OPPO收购，公司产品将继续运营
下一篇
特斯拉全球第700万辆电动车下线
相关文章
小米相册“AI 写真”功能2月10日起逐步下线，相关费用原路返还
腾讯大模型上线文生视频，并宣布开源
浙江首次在民航领域试点应用四足机器人
中国移动与阿里巴巴签署战略合作协议
DeepSeek创造历史，荣登全球AI应用排行榜第二名！
大族半导体华东总部签约落地苏州
添加小工具
点此为“正文侧边栏”添加小工具
