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中国科学家实现1.36公里外毫米级高分辨成像技术

5月12日,从中国科学技术大学获悉,该校潘建伟、张强、徐飞虎等人联合中国科学院西安光学精密机械研究所等国内外科研机构,首次提出并实验验证了主动光学强度干涉技术合成孔径技术,实现了对1.36公里外毫米级目标的高分辨成像。实验系统的成像分辨率较干涉仪中的单台望远镜提升约14倍。相关成果日前发表于国际权威学术期刊《物理评论快报》。

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